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產(chǎn)品資料
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桌上型實驗用無風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽

產(chǎn)品名稱: 桌上型實驗用無風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽
產(chǎn)品型號: MTP-100
產(chǎn)品特點: 桌上型實驗用無風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽
隨著自動駕駛的普及,高發(fā)熱部件和高密度安裝基板的散熱對策成為了難題。此外,在光通信用器件和高頻器件中,由于電氣性質(zhì)依賴于溫度,因此在開發(fā)階段對“熱設(shè)計"和“熱管理(熱管理)"的評價十分重視。

單設(shè)備腔室是一款溫度范圍為-30℃至+130℃的桌上型無風(fēng)恒溫槽。頂部配有大型觀測窗,便于在溫度環(huán)境下進行觀察。此外,試樣與測量設(shè)備的配線處理簡單,可在AC100V下使用,可

桌上型實驗用無風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽 的詳細介紹

桌上型實驗用無風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽

桌上型實驗用無風(fēng)循環(huán)裝置恒溫槽

隨著自動駕駛的普及,高發(fā)熱部件和高密度安裝基板的散熱對策成為了難題。此外,在光通信用器件和高頻器件中,由于電氣性質(zhì)依賴于溫度,因此在開發(fā)階段對“熱設(shè)計"和“熱管理(熱管理)"的評價十分重視。

單設(shè)備腔室是一款溫度范圍為-30℃至+130℃的桌上型無風(fēng)恒溫槽。頂部配有大型觀測窗,便于在溫度環(huán)境下進行觀察。此外,試樣與測量設(shè)備的配線處理簡單,可在AC100V下使用,可在實驗室和實驗室的辦公桌上進行設(shè)計業(yè)務(wù)的同時,輕松地實施溫度環(huán)境下的熱變形觀察和電氣測量。
通過三維數(shù)字圖像相關(guān)法(3DDIC)和熱電圖儀的組合,還可以在溫度環(huán)境下進行熱變形測量。隨著自動駕駛的普及,高發(fā)熱部件和高密度安裝基板的散熱對策成為了難題。此外,在光通信用器件和高頻器件中,由于電氣性質(zhì)依賴于溫度,因此在開發(fā)階段對“熱設(shè)計"和“熱管理(熱管理)"的評價十分重視。

單設(shè)備腔室是一款溫度范圍為-30℃至+130℃的桌上型無風(fēng)恒溫槽。頂部配有大型觀測窗,便于在溫度環(huán)境下進行觀察。此外,試樣與測量設(shè)備的配線處理簡單,可在AC100V下使用,可在實驗室和實驗室的辦公桌上進行設(shè)計業(yè)務(wù)的同時,輕松地實施溫度環(huán)境下的熱變形觀察和電氣測量。
通過三維數(shù)字圖像相關(guān)法(3DDIC)和熱電圖儀的組合,還可以在溫度環(huán)境下進行熱變形測量。

在無風(fēng)狀態(tài)下實現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗效率

采用電子式加熱冷卻機構(gòu)和本公壁面?zhèn)鳠岱绞剑ㄕ谏辏瑢崿F(xiàn)了無風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化。可用于半導(dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等,在散熱性評價時受風(fēng)影響的試料。此外,通過快速的溫度變化可以提高測試的效率

在無風(fēng)狀態(tài)下實現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗效率

采用電子式加熱冷卻機構(gòu)和本公壁面?zhèn)鳠岱绞剑ㄕ谏暾垼瑢崿F(xiàn)了無風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化。可用于半導(dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等,在散熱性評價時受風(fēng)影響的試料。此外,通過快速的溫度變化可以提高測試的效率

在無風(fēng)狀態(tài)下實現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗效率

采用電子式加熱冷卻機構(gòu)和本公,實現(xiàn)了無風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化。可用于半導(dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等,在散熱性評價時受風(fēng)影響的試料。此外,通過快速的溫度變化可以提高測試的效率

在無風(fēng)狀態(tài)下實現(xiàn)槽內(nèi)均一化并提高試驗效率

采用電子式加熱冷卻機構(gòu)和本公司的壁面?zhèn)鳠岱绞剑ㄕ谏暾垼瑢崿F(xiàn)了無風(fēng)狀態(tài)下的槽內(nèi)均勻化。可用于半導(dǎo)體封裝內(nèi)的IC芯片等,在散熱性評價時受風(fēng)影響的試料。此外,通過快速的溫度變化可以提高測試的效率


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